土岐地球年代学研究所

蛍光エックス線分析装置（XRF）

波長分散型の蛍光エックス線分析装置（Wave-length Dispersive X-ray Fluorescence spectrometer; XRF）を用いて、地質試料の化学組成分析を行っています。 XRFは岩石学の分野でよく利用されており、火成岩や変成岩の基礎情報となる全岩化学組成の分析に用いられます。地質試料の全岩化学組成の分析では、試料を高温で溶かしてガラス化したもの（ガラスビード）を測ります。したがって、その試料の平均的な化学組成を得ることができます。当センターでは、ガラスビードの作製方法や分析条件を工夫することで、1試料あたり100分程度かけて最大29元素の定量を行います。また、当センターのXRFでは、試料室に最大47個のガラス体をセットすることができ、それらを連続で自動分析することが可能です。パーセントオーダーの比較的濃度が高い元素について、多元素分析を迅速かつ多量に行うことに適した分析であり、最近では断層破砕帯物質（断層粘土）の分析から、その断層の活動性（活断層か非活断層か）を評価する研究にも用いられています。