平成２３年７月２８日
群馬大学
（独）日本原子力研究開発機構
（財）高輝度光科学研究センター
群馬大学大学院工学研究科の櫻井浩教授、日本原子力研究開発機構の安居院あかね研究副主幹、高輝度光科学研究センターの伊藤真義副主幹研究員らのグループは、磁気コンプトン散乱を利用し、磁気記録材料であるTb43Co57アモルファス合金薄膜において、従来のマクロな測定方法だけでは不可能な、スピン成分と軌道成分を分離した磁化曲線を測定することに成功しました。その結果、スピン成分と軌道成分では磁化過程が異なり、スピン成分の方が磁場に対してより安定であることを見出しました。次世代デバイスとして期待されるスピンエレクトロニクスデバイスは、磁場によるスピン制御を利用しています。材料開発はマクロな磁化測定に基づいて行われていますが、本研究の成果により、ミクロなスピン成分・軌道成分個別の磁化過程の特性が利用できるようになり、デバイスの高速・省電力化につながると期待されます。大型放射光施設SPring-8の高輝度・高エネルギー・円偏光X線を用いることで、初めてこの測定が可能になりました。
この成果は応用物理学系の専門誌「Applied Physics Express」（7月28日発行）に掲載されます。
"Microscopic Magnetization Process in Tb43Co57 Film by Magnetic Compton Scattering"
（日本語訳：磁気コンプトン散乱によるTb43Co57薄膜のミクロスコピックな磁化過程）
Akane Agui, Sayaka Matsumoto, Hiroshi Sakurai, Naruki Tsuji, Satoshi Homma, Yoshiharu Sakurai, and Masayoshi Itou
Applied Physics Express, published online 28th July 2011.
以上