耐震・構造健全性評価研究グループ

SEM-EBSD(電子線後方散乱回折装置付き走査型電子顕微鏡)

加熱引張ステージ(~1500N、~500℃)や加熱ステージ(~1000℃)を用いて、高温・引張荷重下の結晶方位解析が可能なSEM-EBSD装置を整備し、シビアアクシデントを含む様々な条件下で微細組織分析を行っています。EDS(エネルギー分散X線分光法)による2次元化学分析も可能です。

図1
図1:SEM-EBSD

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