図3．本研究で用いたX線磁気円偏光二色性(XMCD)分光装置（左図）と測定方法（中図）。円偏光したX線に対して外部磁場を加える方向を平行/反平行に変化させ、X線吸収測定を行ないます。対象となる物質に電子のスピンが存在する場合、磁場中でのスピンの向きの偏り具合に比例する強さのXMCDシグナル（X線吸収強度の差）が生じます。これにより、対象となる物質のスピンの大きさを知ることができます。（右図）。